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千分尺的使用和校准

2019-07-11来源:小萌情感小站
千分尺的使用和校准

概述


  • 特点:符合阿贝原理、精度高、使用方便。
  • 阿贝原理:被测量线应与测量线相重合或在其延长线上。
  • 外径千分尺的分度值一般为0.01mm和0.001mm,移动量为25mm。
  • 有测力装置,保持恒定的测量力。


分类和结构



千分尺的使用和校准


千分尺的使用和校准


千分尺的使用和校准


千分尺的使用和校准


千分尺的使用和校准

数显外径千分尺


工作原理


运用螺旋副传动原理,借助测微螺杆与螺母配合,将螺杆的回转运动变为直线运动,从固定套管和微分筒上读出长度尺寸。

读数


读数原理:微分筒读数以固定套管的纵刻线为基准线,纵刻线上下有50个分度,每个分度为0.5mm。微分筒圆周刻有50个等分,测微螺杆的螺距为0.5mm, 微分筒旋转一周。微分螺杆移动0.5mm,微分筒旋转一个分度时(1/50转)测微螺杆移动0.01mm。

读数举例:

千分尺的使用和校准


校准和技术要求


  • 按现行有效版本JJG21-2008
  • 主要校准设备

3、4等量块(专用量块)

平面平晶、平行平晶、刀口尺

  • 专用测力仪

1、外观和各部分相互作用:目力观察和手动试验

2、测微螺杆的轴向窜动和径向摆动:手感检查

必要时使用杠杆千分尺检查( 要求≤0.01mm)

千分尺的使用和校准


3、测力:用分度值不大于0.2N的专用测力计

测力应为(5~10)N

4、微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离:

用0.4mm的塞尺置于固定套管上比较测量( ≤ 0.4mm )

5、微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对距离:

当测量下限调整正确后,读取微分筒的零刻线与固定套管纵 向刻线右边缘的偏移量

要求:压线≤0.05mm 离线≤0.1mm

6、测量面的平面度:用平面平晶以技术光波干涉法

对于后续校准的可用刀口尺以光隙法

要求: 外径千分尺 ≤0.6um

壁厚、板厚千分尺 ≤1.5um

数显外径千分尺≤0.3um

7、数显外径千分尺的示值重复性:

在相同条件下重复测量5次分别读数,以最大与最小读数差确定

要求: ≤1um

8、两测量面的平行度:测量上限至100mm用平行平晶检查,或可用量块检查。

采用量块时,其4块尺寸差为1/4螺距,每个量块以其同一部位放入下图所示的测量面间的4个位置上分别读数,以四组差值中最大值来确定。


千分尺的使用和校准



要求:见下表


千分尺的使用和校准

千分尺示值的最大允许误差及两测量面的平行度


9、示值误差:

外径(壁厚、板厚)用5等量块,数显用4等量块校准,或用千分尺专用量块。

在测量范围内均匀分布5点放入量块直接测量。

(A+5.12, A+10.24, A+15.36, A+21.50, A+25.00)

A—测量下限值

示值误差要求见上表

10、数显千分尺的细分误差:在任意位置上,沿测量方向转动微分筒,每间隔0.04mm检查一次,共计12次,分别读出各受检点数显值与微分筒读数值之差,以其最大差值确定。

要求≤±2um

11、校对用量杆(尺寸及变动量):

外径:在光学计或测长机上用4等量块以比较法

数显:在光学计或测长机上用3等量块以比较法


千分尺的使用和校准


尺寸:如图所示5点中最大偏差

变动量:如图所示5点中最大与最小尺寸之差


千分尺的使用和校准

千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量


正确使用和注意事项


  • 测量前应将测量面及被测件擦试干净,等温2H(20℃±5)
  • 千分尺的零位调整
  • 千分尺两测量面与量块接触时,要使用测力装置,不要转动微分筒,以测力装置的棘轮断续响3声读数为准
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